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                芯片檢測顯微圖

                來源:www.shdygx.com 作者:上海點應光學儀器有限公司 時間:2016-04-01 09:46:13 瀏覽量:

                  集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著波光拳——人們對芯片產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片檢測顯微鏡對集成電路失效分析,可以幫助集成電路設Ψ計人員找到設計上的缺陷↑、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。

                 芯片檢測顯微鏡可以幫助我們在IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性,PCB制程中可能就是风忍村存在的缺陷如對齊不良或橋接,開路、短路或不正常連接的缺陷,封裝⊙中的錫球完整性。

                芯片檢測圖

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